话硅光02篇:光功率计



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31 1 月 24
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作者:叶政鹏,郭琳

光功率是光学研究中的重要参数,光功率可以用于判断光源强度,光学元件的透射性能,光束的聚焦效果,也可以通过光功率的变化来评估光学系统的性能。发射机发出光功率,接收机接收光功率。光纤衰耗,接头衰耗测试,实际上也是测试光纤两端的光功率。光通信中的光功率一般较弱,范围从nW级到mW级。这就对测试仪表——光功率计提出了较大的挑战。

是德科技 N77-C系列光功率计,根据不同的应用场景,提供了多种不同类型的光功率计产品,包括多端口光功率计、高功率光功率计、高灵敏度光功率计和光探头主机以及光探头。接下来就跟随小编的步伐来一起了解一下是德科技光功率计系列仪表。

01、高功率光功率计

N7742C和N7743C是一款紧凑型、带模拟反馈输出的高速光功率计,具有测量输入光信号光功率的能力。波长范围可扩展至800nm,涵盖850nm、970nm波段,支持多模和车载光纤通信等特殊波长;N7743C输入功率最大值提升至+20dBm,可以测量更高输入光功率的待测件;

N7742C和N7743C主要用于:

• 通用光功率测量;

• 多模光信号光功率测量;

• 光纤车载以太网;

• 光纤对准;

指标 N7742C,N7743C
端口 2/4
波长范围 800-1650nm
输入功率 -80dBm – +10dBm

(N7742C)

-70dBm – +20dBm

(N7743C)

最大安全输入功率 +16 dBm (N7742C)

+23 dBm (N7743C)

模拟输出 0-2V
平均时间 1μs-10s
连接类型 支持FC、SC、LC、ST类型光纤连接器

02、多端口光功率计

N7744C和N7745C是一款紧凑型、高密度、高速多端口光功率计,支持高达8个端口,在多端口波长扫描测试中,配合高速、高精度的TSL可调谐激光器,可以实现双向200nm/s高速扫描下,提供低至0.1pm测试分辨率。独特设计的4合1磁吸式连接器,每1个连接器上包含4个相同类型的端口,支持FC、LC、裸纤等不同类型的光纤连接。多端口测试切换待测光路时,可提前将待测光路与磁吸连接器相连,切换时更加方便易用。

N7744C和N7745C主要用于:

• 通用光功率测量;

• 多端口、高密度场景下的光功率测量;

• 配合TSL可调谐激光器等仪表,实现IL/PDL扫描测试;

指标 N7744C,N7745C
端口 4/8
波长范围 1250-1650nm
输入功率 -80dBm – +10dBm
最大安全输出功率 +16 dBm
平均时间 1μs-10s
连接类型 支持FC、LC、MU、SC、裸纤等不同类型的光纤连接器

03、高灵敏度光功率计

N7747C和N7748C是一款紧凑型、带模拟反馈输出的高灵敏度光功率计,具有极低的噪声和漂移。每个端口均支持模拟输出,根据光功率测量结果提供线性或对数输出反馈。可替换的端口连接器,支持FC、SC、LC、MU等更多类型;可以实现对-110dBm输入光信号的光功率测试,在800-1700nm的宽带范围内,拥有极高的测试灵敏度;

该设备主要用于:

• 通用光功率测量(支持SM和MM);

• 计量场景下高精度、高灵敏度光功率测量;

指标 N7747C,N7748C
端口 2/4
波长范围 800-1700nm
输入功率 -110dBm – +10dBm
平均时间 25μs-10s
噪声Wpp <0.08pW
漂移 <0.05pW
连接类型 可选配81000xl连接器支持多种光纤连接

04、光探头主机&光探头

是德科技N7749C和8162XC系列光探头接口和光探头,根据传感器材料不同,可以覆盖不同波长范围及输入光功率的光信号测试。光探头的形态,允许探测器摆放的位置、使用的场景更加灵活多变。当面对更高光功率的测试时,可以选择积分球实现最高+40dBm的光功率检测。

N7749C和8162XC系列主要用于:

• 通用光功率测量;

• 使用积分球进行高功率测量;

• 使用光探头进行空间光束功率测量;

指标 81620C 81623C 81624C 81626C 81628C
波长范围nm 450-1020 750-1800 800-1700 850-1650 800-1700
输入功率范围dBm -90-+10 -80-+10 -90-+10 -70-+27 -60-+40
噪声

Wpp

< 0.5pW < 100pW < 4.5pW < 500pW < 5nW
平均时间 100us

是德科技光功率计相关解决方案

01、波长扫描光无源测试系统

伴随数据中心及光通信的迅猛发展,光无源器件的发展已经相对完备,大量无源光器件,如光分路器、光复用和解复用器、光滤波器等已经被大量使用。针对技术相对成熟的无源光芯片测试,主要测试需求以插入损耗IL/偏振相关损耗PDL和回波损耗RL测量为主。传统的测试方法可以通过宽带光源+光谱分析仪实现,但如果要达到更高的波长分辨率和测试动态范围,采用高性能/快速可调光源+多通道功率计进行扫描测试在绝大多数情况下,更为准确。尤其是针对多通道器件(波分复用器件)以及需要测试偏振相关损耗的器件, 可调光源+偏振控制器+多通道光功率计可能是唯一可行的测试方案。

光无源器件测试平台

02、混合光有源器件直流波长响应测试方案

混合光电芯片/器件,是指将有源部分(如光电转换器)和无源部分(如光解复用器)结合在一起的芯片或器件。关于混合光有源器件进行直流的波长响应的测试,基本上可以采取和光无源器件测试同样的系统平台,只不过唯一区别是,该类器件的输出口是电口,因此需要使用精确的直流源表B2900系列。

ICR直流特性测试平台

目前除光器件的测试外,针对光芯片的On wafer测试需求也越发受到研发及测试人员的关注。在光芯片测试过程中,如何将光芯片上的光信号通过光纤耦合到测试系统中,是测试的重要环节。是德科技 N77-C系列光功率计,能够提供与光功率测量结果相关的模拟反馈输出(支持线性和对数模式),通过观察光功率的测量结果,对光纤耦合进行反馈调整,对数模式在低光功率计下拥有更高的灵敏度。

对于要求高精度、高灵敏度的计量场景下,要求光功率计提供更加精确的测量结果和更加稳定的仪表性能,用于保证测量的准确性和稳定性。Keysight N77-C系列光功率计中,N7747C和N7748C高性能光功率计,拥有-110dBm的灵敏度和极低的漂移和噪声,提供优异的光功率测试性能。

以上就是是德科技光功率计系列产品及其应用介绍。需要特别指出:截至2023年12月,光功率计模块(81630B/81634B/81635A/81636A)、独立式光功率计(N7744A/N7745A/N7747A/N7748A)均已停产。将由新一代N7774-C系列光功率计更好的支持相关测试。点击下方按钮下载硅光器件测试方案,还有机会赢取精美小礼品哦!

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