前文介绍了电子设备振动环境试验的一些基本概念和分类，以及相关软硬件系统。
电子设备振动环境试验(1) —— 概述
电子设备振动环境试验(2) —— 振动环境试验类型
电子设备振动环境试验(3) ——振动台试验系统
电子设备振动环境试验(4) ——数据采集系统
本文将开始介绍具体的振动环境试验，首先介绍最常见的振动类型——正弦振动和扫频。
正弦振动
正弦振动试验主要目的是模拟产品在运输、存储和使用等过程中经受到的正弦振动。通常正弦振动主要由汽车的发动机、空调压缩机、飞机的桨叶和气动等旋转、脉动、振荡引起。
而现实中的振动通常是随机的，随着试验技术的发展，随机振动的应用已越来越广泛。但是由于多方面的原因，正弦振动试验在各行各业仍然广泛被采用，其原因主要包括：
通过正弦振动试验，可有效获取系统的动力学特性；
可模拟环境振动，测试系统在正弦激励下的承载能力；
历史原因，包括之前设计和使用规范的继承，试验设备和新规范的更新需要较长的周期等。
总而言之，尽管正弦振动试验对产品的验证是不充分和不全面的，但是正弦振动在可见的未来是不会被取代的；而一些以正弦试验为主的行业，可能在未来会有更多形式的试验作为补充。
正弦振动和仿真分析里的谐响应分析对标。
结构动力学中的谐响应分析(1) —— 谐响应分析原理及应用
结构动力学中的谐响应分析(2) —— 基于ANSYS的实现
正弦振动的描述
正弦振动通过频率、振幅、相位可以完全描述，而对于我们只关心稳态过程，相位信息是不需要的。
而事实上，正弦试验需要对连续频率进行试验；对于无穷多个频率进行试验是不可能实现的；此外，对于成百上千个正弦频率激励一个个试验也会花费过多的时间。实际的正弦试验大多数采用扫频的技术，即正弦激励每个时刻频率都在变化；这种正弦试验还引入了试验时间，或者扫描速率这个概念；其时域上的曲线大致是这种形式。
在频域上，有等幅值的，也有不等幅值的；由于振动台的限制，通常低频由位移控制，高频由加速度控制。
正弦振动试验参数
正弦振动试验中，需要确定频率范围、不同频率下的振幅和扫描速率（与试验时间等同）。
频率范围和振幅都比较容易理解，这里简单介绍一下扫描速率。扫描一般分为频率线性速率和对数速率2种形式；线性速率大约类似x Hz/min这种形式，不过多做介绍；对数速率通常用倍频程描述；对于频率范围比较广的正弦试验，大多数采用对数速率。
很多设计师在正弦试验的时候，对倍频程这个概念很困惑，这里简单介绍一下倍频程的定义。
式中f1为当前频率，f0为基准频率，n就为倍频程；由此可见，f1和f0之间并不是线性关系，而是和2n成线性关系，并且n可以为实数。如扫频速度为每分钟一个倍频程/分(1 oct/min)，表示每分钟频率增加一倍；x oct/min，表示每分钟频率增加2x倍。扫描速率和试验时间是一个等价的概念，有关这些参数的计算，后续的系列文章将会有专门的介绍。
正弦振动试验条件
试验前，首先需要根据试验目的，确定正弦振动的试验类型，通常包括：
特征扫频，通常采用较小量级试验，目的是为了获取系统的动力学特性；
常规正弦试验，根据产品经受的极端环境，开展极限承载能力的试验；
定频试验，在产品共振点进行一定时间的耐振试验，考核产品抗共振能力；
确认是在哪个阶段开展的试验，包括研制试验、鉴定试验、验收试验和准鉴定试验等。
正弦试验需要确定频率范围、振幅、扫描速率；扫频是频率从高到低还是从低到高扫描，以及扫频的次数等。其中，扫频速率不仅影响试验的时间长短，还会导致扫出的共振频率有略微的偏移。
理想的试验曲线一般是一条或几条折线描述，而实际试验过程的控制曲线常常是这样的。
由于振动台控制能力不是无限的，在系统共振点可能会出现一定波动；在振动台介绍的那篇系列文章中，我们讨论到，“通常对于给定的振动谱，会设置一个容差限，其上下限作为允许的偏差，叫做上下报警限；原则上，认为试验过程中，超出报警限的振动激励是不符合试验要求的；但是通常并不会要求的那么严格。”
此外，试验过程中，由于各方面的原因，可能还会采取下凹（也有叫做带谷）、限幅等措施；其曲线大致是这样的，其中画红圈的就是下凹的区间和幅度。
有关下凹和限幅等讨论，将在后续系列文章一并开展。
最后
本文介绍了振动环境试验中最常见的类型——正弦振动和扫频，下文将对随机振动开展介绍。